Calibration of a digital temperature sensor on the wafer using the example of the SMT172
Join us for an insightful webinar on the calibration of digital temperature sensors directly on the wafer, using the SMT172 as a prime example. In this session, we'll delve into the intricate process of calibrating digital temperature sensors at the wafer level, exploring the nuances and techniques involved in ensuring accuracy and reliability. Don't miss this opportunity to enhance your knowledge and expertise in temperature sensing technologies.
Optimize your application with our O2 sensors!
This webinar is tailored for individuals like yourself who are keen on staying informed of the latest technological advancements and product developments in oxygen sensing at Angst+Pfister Sensors and Power. During the webinar, you get the opportunity to gain insights from industry experts as they explore the innovative features of our oxygen sensor portfolio, while also discussing the typical challenges encountered in various application domains. Additionally, you will have the unique chance to learn more about the key product features and the typical application areas. Our esteemed speakers, Dr. Nauman Bin Tanvir and Volker Huelsekopf, contribute a wealth of expertise and knowledge to this webinar.
Hochgenaue digitale Temperatursensoren dank Kalibrationsverfahren auf Waferbasis
Kalibrierte digitale Temperatursensoren setzen neue Maßstäbe in Präzision und Zuverlässigkeit. Erfahren Sie, wie digitale Temperatursensoren auf Waferbasis kalibriert werden und wie Sie dadurch eine kostenintensive Rekalibrierung ersparen.
Nehmen Sie an diesem Live-Webinar am 23.11.2023 um 11:00 Uhr teil und erfahren Sie:
• Warum digitale Temperatursensoren im Vergleich zu anderen Temperatursensoren einen geringen Temperaturdrift und hohe Reaktionsgeschwindigkeit aufweisen
• Wie Sie durch eine hohe Langzeitstabilität Rekalibrierungen vermeiden können und somit Kosten sparen
• Wie digitale Sensoren durch Zener-Zapping kalibriert werden und welche Eigenschaften dort erreicht werden können
Datum: 23.11.2023 11-12Uhr
Sprecher: Robin Ellinger (Produkt Manager Temperatur-, Druck-, und Durchflusssensoren)
Sprache: Deutsch
PAROX - paramagnetic O2 measurement October 12th 2023, 9:30 UTC
Our expertise Mr. Jacques Faber, Senior Gas Sensor Engineer, will introduce following technical contents:
- Oxygen measuring requirements
- General oxygen measuring principles
- Paramagnetic oxygen measuring principles
- Typical applications
- Influences on measurement results and possible countermeasures
- Advantages of PAROX from Angst+Pfister Sensors and Powers
Von der Bewegung zur Innovation: 27. Juli 2023
Wir zeigen die Leistungsfähigkeit von Murata MEMS-Sensoren in Mobilitäts- und Industriemärkten
Tauchen Sie mit uns ein in die Welt der Inertial Sensorik und welche Fortschritte das für die Automobil- und Industriebranche mit sich bringt.
Die Technologie entwickelt sich ständig weiter, und Murata verbessert ständig bestehende Lösungen, um frühere Einschränkungen zu überwinden. Die Bedeutung der Inertial Sensorik in der Automobil- und Industriebranche ist zweifellos sprunghaft angestiegen, um den Anforderungen der heutigen Zeit gerecht zu werden. Hier kommen Murata MEMS-Sensoren ins Spiel!
In diesem Webinar erfahren Sie mehr über:
- Lösung von Herausforderungen mit MEMS-Sensoren im Automobil- und Industriekontext
- Wie die MEMS-Technologie von Murata zur Lösung dieser Herausforderungen beiträgt
- Aktuelle Anwendungsfälle in Automobil- und Industriemärkten
- Wie Sie die Einführung der MEMS-Technologie in Ihr Design beschleunigen können
Presenters:
Yuki Fujii, Product Manager (Sensor) Murata,
Divyaraj Shetty, Murata Electronics (India) Private Limited
Panelists:
Tommi VILENIUS, Senior Manager, Business Development Murata FI
Yuichiro Tanaka, Product Manager, Product Management
Drucksensorik
Vor- und Nachteile der Digitalisierung und Signalverarbeitung im Signalpfad
New RoboteQ controller - 4th Generation (RoboG4™)
With Klaus Rost & Daniel Vogler from Angst+Pfister and Experts from RoboteQ
Design session registration
Benefits of using BeFAST for SiC Characterization
